吴轩楠
博士 · 复享光学深度光谱实验室主任
培训讲座五:光谱与薄膜测量——典型应用案例中的拟合技巧
时间:8月26日 16:45-17:30 | 地点:泛太平洋大酒店3楼宴会厅
课程简介:通过嵌入真实的光谱测量与椭偏分析场景之中,结合典型薄膜体系(如单层膜、多层增透/高反膜、透明导电氧化物等)的实测案例,讲解和推导光谱反射/透射曲线、椭偏参数(Ψ, Δ)、膜厚d、复折射率n&k的实验数据。内容涵盖:薄膜干涉的物理图像建立、常见拟合模型(如Cauchy、Sellmeier、Tauc-Lorentz等)的选择逻辑,以及在实际操作中如何识别并规避厚度周期性、背反射干扰、界面粗糙度等常见拟合陷阱。
授课教师简介(点击展开)
吴轩楠博士,毕业于四川大学物理学院,现任上海复享光学股份有限公司深度光谱实验室主任,是资深应用专家及技术工程师,长期聚焦光谱仪器底层技术,涵盖光学系统设计、探测器集成、光谱数据处理与算法优化等方向。